- 加熱爐設(shè)備
- 晶體及材料
- 破碎/球磨設(shè)備
- 壓片設(shè)備
- 輥壓設(shè)備
- 切割設(shè)備
- 磨拋設(shè)備
- 清洗設(shè)備
- 電池研發(fā)設(shè)備
- 薄膜制備
- 配件
- 其它實驗室設(shè)備
ZnS 晶體基片
- 產(chǎn)品概述:
- II - VI族晶體有可能在不久的將來用于突出拍攝上。他們的直接帶隙的性質(zhì)和大范圍的透明度以及一個帶隙,為有趣的設(shè)備提供了廣泛選擇的可能性。
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技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應(yīng)用提示配件詳情
產(chǎn)品名稱
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ZnS 晶體基片
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技術(shù)參數(shù)
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晶體結(jié)構(gòu): | 立方晶系 | 晶格常數(shù): | 5.41? | 密度: | 4.08 g/cm3 | 熔點: | 1850 ℃ | 熱容: | 0.469 J/g·k | 熱膨脹系數(shù)(10-6/K): | 6.8 | 折射率: | 2.34 | 透過波長: | 2~12 um | 熱導(dǎo)率: | 16 W/(m.k) at300K | 生長方式: | 布里奇曼法 |
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產(chǎn)品規(guī)格
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常規(guī)晶向: | <110>、<111> | 常規(guī)尺寸: | 10x10x1.0mm、5x5x1.0mm | 拋光情況: | 單拋、雙拋 | 表面粗糙度: | <5A | 注:尺寸及方向可按照客戶要求定做。 |
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晶體缺陷
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人工生長單晶都可能存在晶體內(nèi)部缺陷。
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標(biāo)準(zhǔn)包裝
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1000級超凈室,100級超凈袋或單片盒封裝
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